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機(jī)器視覺在logo外觀的實(shí)現(xiàn)

2021-09-23 15:57

目前主流的產(chǎn)品標(biāo)識(shí)都是噴印在產(chǎn)品上,但由于工藝原因,印刷標(biāo)識(shí)通常存在一定的印刷缺陷,如印刷錯(cuò)位、漏印、錯(cuò)印等,嚴(yán)重影響產(chǎn)品質(zhì)量。品牌的外觀和整體形象。針對(duì)此類問題,不少企業(yè)采用人工檢測(cè)來檢測(cè)印刷品的質(zhì)量。但是,由于人工檢查過程中不可避免的錯(cuò)誤,會(huì)造成大量漏檢、誤檢和人工損壞。日益高昂的勞動(dòng)力成本也成為制約廠商擴(kuò)張的主要因素。在行業(yè)中,高光材料用于加工一些平整度較高、表面要求較高的工件,如手機(jī)標(biāo)識(shí)、軍用設(shè)備等產(chǎn)品中的導(dǎo)光板,如Apple LOGO缺陷檢測(cè)。此類工件樣品本身呈鏡面反射,工件本身平整度高,易沾油漬、指紋等。

logo外觀檢測(cè)

【檢測(cè)類型】

碰傷、擊傷、缺口瑕疵檢測(cè)

刮傷瑕疵檢測(cè)

壓傷、凹痕瑕疵檢測(cè)

針孔瑕疵檢測(cè)

腐蝕點(diǎn)、白點(diǎn)、麻點(diǎn)瑕疵檢測(cè)

臟污瑕疵檢測(cè)

研磨痕瑕疵檢測(cè)

料線、料紋瑕疵檢測(cè)

凸包瑕疵檢測(cè)等

logo外觀檢測(cè)

【檢測(cè)難點(diǎn)】

由于材質(zhì)表面光潔度很高,已經(jīng)形成一個(gè)高光鏡面,光源即使在很弱的狀態(tài)下,表面的反光也會(huì)有非常強(qiáng)的對(duì)比度,這種對(duì)比度會(huì)把表面本身的雜質(zhì)、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋,使得視覺拍照無法檢測(cè)出零件表面缺陷。

倒影問題:由于材質(zhì)表面已經(jīng)形成一個(gè)鏡面,一般的光學(xué)鏡頭和視覺光源的燈珠等都會(huì)在材質(zhì)表面形成倒影,這個(gè)倒影會(huì)成像在最后的檢測(cè)畫面上,會(huì)嚴(yán)重影響材質(zhì)表面的成像效果,造成檢測(cè)無法進(jìn)行

總結(jié):國(guó)辰機(jī)器人根據(jù)多年機(jī)器視覺檢測(cè)項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),總結(jié)出的成熟系統(tǒng)解決方案,主要用來解決電子產(chǎn)品表面Logo缺陷檢測(cè),目前主要應(yīng)用在國(guó)內(nèi)產(chǎn)品Logo和手機(jī)外殼Logo表面缺陷檢測(cè)。


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